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壓力傳感器(qì)芯片參數自動測試系統 BE-CP100
    發布時(shí)間(jiān): 2021-05-02 23:11    

動探針台+專用測試儀,可高速完成3~8英寸矽壓力傳感器(qì)器(qì)件芯片的自動檢測,可完成阻值、耐壓、反流、失調電壓等測試。

壓力傳感器(qì)芯片參數自動測試系統 BE-CP100

(1)應用場(chǎng)景:
自動探針台+專用測試儀,可高速完成3~8英寸矽壓力傳感器(qì)器(qì)件芯片的自動檢測,可完成阻值、耐壓、反流、失調電壓等測試。

(2)主要特點:

  • ★ 适用于3~8英寸芯片

  • ★ 工作(zuò)行程:X軸180m,Y軸220mm,Z軸5m,θ軸±15°

  • ★ X.Y.Z.θ解析度分(fēn)别為(wèi):1um、1um、1um、0.0015°

  • ★ 工作(zuò)步距(X,Y):公制0.001~9.99

  • ★ 主要測試功能(néng):圓形、探邊、環型測試;壞點重測;分(fēn)類測試、自定義圖形測試等

  • ★ 打點方式:實時(shí)、滞後、測後、脫機:

  • ★ Windows中文操作(zuò)界面, Mapping動态顯示

  • ★ 顯微鏡為(wèi)10~67倍連續調節,環形燈照明。




(3)可根據用戶使用條件定制需要的規格,有關(guān)技術指标請索取産品詳細說(shuō)明。


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